page_banner

A SWIR alkalmazása az ipari ellenőrzésben

A rövidhullámú infravörös (SWIR) egy speciálisan megtervezett optikai lencse, amelyet az emberi szem által közvetlenül nem érzékelhető rövidhullámú infravörös fény rögzítésére terveztek. Ezt a sávot általában 0,9 és 1,7 mikron közötti hullámhosszúságú fénynek nevezik. A rövidhullámú infravörös lencse működési elve az anyag adott fényhullámhosszra való áteresztési tulajdonságain múlik, és speciális optikai anyagok és bevonattechnológia segítségével a lencse kiválóan képes vezetni a rövidhullámú infravörös fényt, miközben elnyomja a látható fényt. fény és egyéb nemkívánatos hullámhosszok.

Fő jellemzői a következők:
1. Nagy áteresztőképesség és spektrális szelektivitás:A SWIR lencsék speciális optikai anyagokat és bevonattechnológiát alkalmaznak a rövidhullámú infravörös sávon belüli nagy áteresztőképesség elérése érdekében (0,9-1,7 mikron), valamint spektrális szelektivitással rendelkeznek, megkönnyítve az infravörös fény meghatározott hullámhosszainak azonosítását és vezetését, valamint más hullámhosszú fény gátlását. .
2. Kémiai korrózióállóság és termikus stabilitás:A lencse anyaga és bevonata kiemelkedő kémiai és termikus stabilitást mutat, és képes fenntartani az optikai teljesítményt szélsőséges hőmérséklet-ingadozások és változatos környezeti körülmények között is.
3. Nagy felbontás és alacsony torzítás:A SWIR objektívek nagy felbontású, alacsony torzítású és gyors reagálású optikai tulajdonságokkal rendelkeznek, megfelelve a nagyfelbontású képalkotás követelményeinek.

kamera-932643_1920

A rövidhullámú infravörös lencséket széles körben használják az ipari vizsgálatok területén. Például a félvezető gyártási folyamatban a SWIR lencsék képesek észlelni azokat a hibákat a szilícium lapkák belsejében, amelyeket látható fényben nehéz észlelni. A rövidhullámú infravörös képalkotási technológia növelheti az ostyavizsgálat pontosságát és hatékonyságát, ezáltal csökkentve a gyártási költségeket és javítva a termék minőségét.

A rövidhullámú infravörös lencsék létfontosságú szerepet játszanak a félvezető lapkák vizsgálatában. Mivel a rövidhullámú infravörös fény áthatja a szilíciumot, ez az attribútum felhatalmazza a rövidhullámú infravörös lencséket a szilíciumlapkák hibáinak észlelésére. Például az ostyán lehetnek repedések a gyártási folyamat során fellépő maradék feszültség miatt, és ezek a repedések, ha nem észlelik őket, közvetlenül befolyásolják a végső kész IC chip hozamát és gyártási költségét. A rövidhullámú infralencsék kihasználásával az ilyen hibák hatékonyan felismerhetők, ezáltal elősegítve a termelés hatékonyságát és a termékminőséget.

Gyakorlati alkalmazásokban a rövidhullámú infralencsék nagy kontrasztú képeket készíthetnek, így a legkisebb hibák is szembetűnően láthatóvá válnak. Ennek az észlelési technológiának az alkalmazása nemcsak az észlelés pontosságát növeli, hanem csökkenti a kézi észlelés költségeit és idejét is. A piackutatási jelentés szerint a rövidhullámú infralencsék iránti kereslet a félvezető-érzékelő piacon évről évre növekszik, és várhatóan stabil növekedési pályát fog tartani a következő néhány évben.


Feladás időpontja: 2024.11.18